Χαρακτηρισμός νιτριδίων III-V με φασματοσκοπία απορρόφησης ακτίνων Χ

Όλα τα τεκμήρια στο ΕΑΔΔ προστατεύονται από πνευματικά δικαιώματα.

DOI
10.12681/eadd/24174
Διεύθυνση Handle
http://hdl.handle.net/10442/hedi/24174
ND
24174
Εναλλακτικός τίτλος
Characterization of III-V nitrides usine X-ray absorption spectroscopy
Συγγραφέας
Κατσικίνη, Μαρία του Νικόλαος
Ημερομηνία
2000
Ίδρυμα
Αριστοτέλειο Πανεπιστήμιο Θεσσαλονίκης (ΑΠΘ). Σχολή Θετικών Επιστημών. Τμήμα Φυσικής. Τομέας Φυσικής Στερεάς Κατάστασης
Εξεταστική επιτροπή
Παλούρα Ελένη
Αντωνόπουλος Ιωάννης
Καρακώστας Θεόδωρος
Στοϊμένος Ιωάννης
Βες Σωτήριος
Κομνηνού Φιλομήλα
Λιούτας Χρήστος
Επιστημονικό πεδίο
Φυσικές ΕπιστήμεςΦυσική
Λέξεις-κλειδιά
Νιτρίδια III-V; Μικροδομές; Ηλεκτρονική δομή; Απορρόφηση ακτίνων Χ; Εκτεταμένη λεπτή υφή απορρόφησης ακτίνων Χ; Λεπτή υφή ακμής απορρόφησης ακτίνων Χ; Ακτινοβολία Synchrotron
Χώρα
Ελλάδα
Γλώσσα
Ελληνικά
Άλλα στοιχεία
243 σ., εικ.
Στατιστικά χρήσης
ΠΡΟΒΟΛΕΣ
Αφορά στις μοναδικές επισκέψεις της διδακτορικής διατριβής.
Πηγή: Google Analytics.
ΞΕΦΥΛΛΙΣΜΑΤΑ
Αφορά στο άνοιγμα του online αναγνώστη.
Πηγή: Google Analytics.
ΜΕΤΑΦΟΡΤΩΣΕΙΣ
Αφορά στο σύνολο των μεταφορτώσων του αρχείου της διδακτορικής διατριβής.
Πηγή: Εθνικό Αρχείο Διδακτορικών Διατριβών.
ΧΡΗΣΤΕΣ
Αφορά στις μοναδικές επισκέψεις της διδακτορικής διατριβής.
Πηγή: Εθνικό Αρχείο Διδακτορικών Διατριβών.
Σχετικές εγγραφές (με βάση τις επισκέψεις των χρηστών)