Μελέτη ενεργών διατομών αντιδράσεων δευτερίων και εφαρμογή σε ιοντικές τεχνικές ανάλυσης ελαφρών στοιχείων

Περίληψη

Οι αναλυτικές τεχνικές με δέσμες ιόντων (Ion Beam Analysis (IBA) techniques) χρησιμοποιούνται ευρέως για την ανάλυση στοιχείων ή/και ισοτόπων στα επιφανειακά στρώματα στερεών. Η ευρεία χρήση τέτοιων μεθόδων έγκειται στο γεγονός ότι είναι -σχεδόν- μη καταστροφικές για τα υπό ανάλυση δείγματα. H εφαρμογή τους περιλαμβάνει την ανίχνευση των σωματιδίων ή της ακτινοβολίας που προκύπτει μετά την αλληλεπίδραση των σωματιδίων της δέσμης με τα άτομα ή τους πυρήνες των επιφανειακών στρωμάτων του στόχου και καταλήγει στον ποσοτικό προσδιορισμό και στην κατά βάθος ανάλυση στοιχείων σε ένα δείγμα. Για να εφαρμοσθούν ιοντικές τεχνικές ανάλυσης και να εξαχθούν τα αντίστοιχα συμπεράσματα είναι απαραίτητη η εκ των προτέρων γνώση των αντίστοιχων τιμών της διαφορικής ενεργού διατομής. Ωστόσο, ο αναλυτικός υπολογισμός τέτοιων τιμών, στην ενεργειακή περιοχή των MeV, είναι αδύνατος εφόσον η φυσική που περιλαμβάνεται στην αλληλεπίδραση δέσμης-στόχου είναι μόνο μερικώς γνωστή. Επομένως, η εφαρμογή αυτών των α ...
περισσότερα

Περίληψη σε άλλη γλώσσα

Ion Beam Analysis (IBA) techniques are universally used for analyzing elements and/or isotopes in the near-surface region of solids. More specifically, the implementation of such techniques includes the measurement of the number and the energy distribution of ions scattered from atoms in the near-surface layers of solid materials, and it provides a simple quantitative analysis, or it determines the depth profile of target elements. In the field of material analysis, in order for such results to be obtained via IBA techniques, the a priori knowledge of the corresponding differential cross section values is essential. However, the analytical calculation of the differential cross section values, for beam energies in the MeV range, is impossible since the physics concerning the interaction of the beam-target nucleons is only partially known. Therefore, the application of such analytical techniques is based on the existence of the corresponding experimental datasets in the literature. At th ...
περισσότερα

Όλα τα τεκμήρια στο ΕΑΔΔ προστατεύονται από πνευματικά δικαιώματα.

DOI
10.12681/eadd/48077
Διεύθυνση Handle
http://hdl.handle.net/10442/hedi/48077
ND
48077
Εναλλακτικός τίτλος
Cross-section studies of deuteron reactions and application in light element ion beam analysis techniques
Συγγραφέας
Ντέμου, Ελένη (Πατρώνυμο: Σεραφείμ)
Ημερομηνία
2020
Ίδρυμα
Εθνικό Μετσόβιο Πολυτεχνείο (ΕΜΠ). Σχολή Εφαρμοσμένων Μαθηματικών και Φυσικών Επιστημών. Τμήμα Φυσικής
Εξεταστική επιτροπή
Κόκκορης Μιχαήλ
Λαγογιάννης Αναστάσιος
Ζάννη-Βλαστού Ρόζα
Πατρώνης Νικόλαος
Bogdanovic - Radovic Iva
Mayer Matej
Gurbich Alexander
Επιστημονικό πεδίο
Φυσικές ΕπιστήμεςΦυσική
Λέξεις-κλειδιά
Δευτέρια; Ελαφρά στοιχεία; Πυρηνική φυσική
Χώρα
Ελλάδα
Γλώσσα
Αγγλικά
Άλλα στοιχεία
246 σ., εικ., πιν., σχημ., γραφ.
Στατιστικά χρήσης
ΠΡΟΒΟΛΕΣ
Αφορά στις μοναδικές επισκέψεις της διδακτορικής διατριβής για την χρονική περίοδο 07/2018 - 07/2023.
Πηγή: Google Analytics.
ΞΕΦΥΛΛΙΣΜΑΤΑ
Αφορά στο άνοιγμα του online αναγνώστη για την χρονική περίοδο 07/2018 - 07/2023.
Πηγή: Google Analytics.
ΜΕΤΑΦΟΡΤΩΣΕΙΣ
Αφορά στο σύνολο των μεταφορτώσων του αρχείου της διδακτορικής διατριβής.
Πηγή: Εθνικό Αρχείο Διδακτορικών Διατριβών.
ΧΡΗΣΤΕΣ
Αφορά στους συνδεδεμένους στο σύστημα χρήστες οι οποίοι έχουν αλληλεπιδράσει με τη διδακτορική διατριβή. Ως επί το πλείστον, αφορά τις μεταφορτώσεις.
Πηγή: Εθνικό Αρχείο Διδακτορικών Διατριβών.
Σχετικές εγγραφές (με βάση τις επισκέψεις των χρηστών)