Αυτο-ιασώμενα ολοκληρωμένα κυκλώματα/συστήματα σε νανομετρικές τεχνολογίες ημιαγωγών

Περίληψη

Η εξέλιξη της CMOS τεχνολογίας κατά τη διάρκεια των ετών επέτρεψε την παρουσία δισεκατομμυρίων τρανζίστορ σε ένα ολοκληρωμένο κύκλωμα. Καθώς το μέγεθος των τρανζίστορ κλιμακώνεται, προέκυψαν σημαντικά ζητήματα αξιοπιστίας, τόσο σε επίπεδο τρανζίστορ όσο και σε επίπεδο κυκλωμάτων και συστημάτων, λόγω των φαινομένων γήρανσης όπως αστάθεια πόλωσηςθερμοκρασίας (BTI), έγχυση θερμών φορέων (HCI), κατάρρευση διηλεκτρικού καιηλεκτρομετανάστευση ή λόγω των συνεχώς μεταβαλλόμενων περιβαλλοντικών συνθηκών. Μιαπροσέγγιση για την αντιμετώπιση προβλημάτων αξιοπιστίας είναι η έννοια της αυτο-ίασης. Δηλαδή,αναπτύσσοντας κυκλώματα και συστήματα που θα "αισθάνονται" τη γήρανσή τους καθώς και τιςαλλαγές που το περιβάλλον θέτει και θα αντιδρούν κατάλληλα για να συνεχίσουν να λειτουργούναξιόπιστα υπό οποιεσδήποτε συνθήκες. Η παρούσα διατριβή επικεντρώνεται στην ανάλυση των μηχανισμών που επηρεάζουν την αξιόπιστη λειτουργία των κυκλωμάτων και συστημάτων VLSI και στην ανάπτυξη καινοτόμων μεθόδων που μπορούν ...
περισσότερα

Περίληψη σε άλλη γλώσσα

The evolution of CMOS technology over the years has allowed the presence of billions of transistors in an integrated circuit. As the size of the transistors escalates, important reliability issues, both at the transistor level and at the circuits and systems level, have emerged, due to aging phenomena such as bias-temperature instability (BTI), hot-carrier injection (HCI), dielectric breakdown and electromigration or due to ever-changing environmental conditions. One approach to cope with reliability issues is the self-healing concept. That is, developing circuits and systems that will "sense" their aging status as well as changes that the environment sets and react appropriately to continue operating reliably under any conditions. The present thesis focuses on the analysis of the mechanisms that influence the reliable operation of VLSI circuits and systems and the development of innovative methods that can offer them self-healing so that they function reliably and uninterrupted throug ...
περισσότερα

Όλα τα τεκμήρια στο ΕΑΔΔ προστατεύονται από πνευματικά δικαιώματα.

Διεύθυνση Handle
http://hdl.handle.net/10442/hedi/47477
ND
47477
Εναλλακτικός τίτλος
Self-healing integrated circuits/systems in semiconductor nanometer technologies
Συγγραφέας
Δούναβη, Ελένη-Μαρία του Νικόλαος
Ημερομηνία
2020
Ίδρυμα
Πανεπιστήμιο Ιωαννίνων. Σχολή Πολυτεχνική. Τμήμα Μηχανικών Ηλεκτρονικών Υπολογιστών και Πληροφορικής
Εξεταστική επιτροπή
Τσιατούχας Γεώργιος
Καβουσιανός Χρυσοβαλάντης
Ευθυμίου Αριστείδης
Τενέντες Βασίλειος
Νικολός Δημήτριος
Χατζόπουλος Αλκιβιάδης
Νικολαΐδης Σπυρίδων
Επιστημονικό πεδίο
Επιστήμες Μηχανικού και Τεχνολογία
Επιστήμη Ηλεκτρολόγου Μηχανικού, Ηλεκτρονικού Μηχανικού, Μηχανικού Η/Υ
Νανοτεχνολογία
Λέξεις-κλειδιά
Αυτο-ίαση; Ανίχνευση γήρανσης; Μνήμες SRAM; Αξιοπιστία; Πρόβλεψη αστοχιών
Χώρα
Ελλάδα
Γλώσσα
Αγγλικά
Άλλα στοιχεία
4, xiv, 178 σ., εικ., πιν., σχημ., γραφ.
Ειδικοί όροι χρήσης/διάθεσης
Το έργο παρέχεται υπό τους όρους της δημόσιας άδειας του νομικού προσώπου Creative Commons Corporation:
Στατιστικά χρήσης
ΠΡΟΒΟΛΕΣ
Αφορά στις μοναδικές επισκέψεις της διδακτορικής διατριβής.
Πηγή: Google Analytics.
ΞΕΦΥΛΛΙΣΜΑΤΑ
Αφορά στο άνοιγμα του online αναγνώστη.
Πηγή: Google Analytics.
ΜΕΤΑΦΟΡΤΩΣΕΙΣ
Αφορά στο σύνολο των μεταφορτώσων του αρχείου της διδακτορικής διατριβής.
Πηγή: Εθνικό Αρχείο Διδακτορικών Διατριβών.
ΧΡΗΣΤΕΣ
Αφορά στις μοναδικές επισκέψεις της διδακτορικής διατριβής.
Πηγή: Εθνικό Αρχείο Διδακτορικών Διατριβών.
Σχετικές εγγραφές (με βάση τις επισκέψεις των χρηστών)