Φυσικές ιδιότητες λεπτών υμενίων πυριτιδίων των σπανίων γαιών

Περίληψη

ΣΤΗΝ ΕΡΓΑΣΙΑ ΑΝΑΠΤΥΧΘΗΚΑΝ ΥΜΕΝΙΑ ΠΥΡΙΤΙΔΙΩΝ ΤΩΝ ΣΠΑΝΙΩΝ ΓΑΙΩΝ ΕΠΙΤΑΞΙΑΚΑ ΣΕ ΥΠΟΣΤΡΩΜΑ Si.ΤΑ ΥΜΕΝΙΑ ΠΑΡΑΣΚΕΥΑΣΤΗΚΑΝ ΣΕ ΘΑΛΑΜΟ ΥΨΗΛΟΥ ΚΕΝΟΥ ΜΕ ΕΞΑΧΝΩΣΗ ΑΠΟ ΚΑΝΟΝΙ ΗΛΕΚΤΡΟΝΙΩΝ ΣΠΑΝΙΑΣ ΓΑΙΑΣ ΚΑΙ ΠΥΡΙΤΙΟΥ ΚΑΙ ΘΕΡΜΙΚΗ ΚΑΤΕΡΓΑΣΙΑ (ΜΕΣΑ ΣΤΟ ΘΑΛΑΜΟ). Η ΜΕΛΕΤΗ ΤΗΣ ΑΝΤΙΔΡΑΣΗΣ ΑΝΑΜΕΣΑ Σ' ΕΝΑ ΣΤΡΩΜΑ ΣΠΑΝΙΑΣ ΓΑΙΑΣ ΚΑΙ ΤΟ Si ΤΟΥ ΥΠΟΣΤΡΩΜΑΤΟΣ ΕΔΕΙΞΕ ΟΤΙ Η ΔΙΑΧΥΣΗ ΤΟΥ ΠΥΡΙΤΙΟΥ ΓΙΝΕΤΑΙ ΟΜΟΙΟΜΟΡΦΑ ΚΑΙ ΟΙ ΤΑΣΕΙΣ ΠΟΥ ΑΝΑΠΤΥΣΟΝΤΑΙ ΚΑΤΑ ΤΗ ΔΙΑΡΚΕΙΑ ΤΗΣ ΑΝΤΙΔΡΑΣΗΣ ΚΑΘΟΡΙΖΟΥΝ ΣΗΜΑΝΤΙΚΑ ΤΗ ΜΟΡΦΟΛΟΓΙΑ ΤΩΝ ΥΜΕΝΙΩΝ.Ο ΔΟΜΙΚΟΣ ΧΑΡΑΚΤΗΡΙΣΜΟΣ ΠΡΑΓΜΑΤΟΠΟΙΗΘΗΚΕ ΜΕ ΗΛΕΚΤΡΟΝΙΚΗ ΜΙΚΡΟΣΚΟΠΙΑ ΚΑΙ ΠΕΡΙΘΛΑΣΗ ΑΚΤΙΝΩΝ Χ.ΤΑ ΥΜΕΝΙΑ ΑΝΑΠΤΥΣΣΟΝΤΑΙ ΕΠΙΤΑΞΙΑΚΑ ΤΟΣΟ ΣΕ(100),ΟΣΟ ΚΑΙ ΣΕ (111)Si,ΣΧΗΜΑΤΙΖΟΝΤΑΣ ΤΗΝ ΤΕΤΡΑΓΩΝΙΚΗ(ThSi2) Η/ΚΑΙ ΤΗΝ ΕΞΑΓΩΝΙΚΗ (ΑlB2) ΔΟΜΗ.ΟΙ ΠΛΕΓΜΑΤΙΚΕΣ ΣΤΑΘΕΡΕΣ ΜΕΤΡΗΘΗΚΑΝ ΣΕ ΟΛΑ ΤΑ ΥΜΕΝΙΑ ΜΕ ΤΗΝ ΠΕΡΙΘΛΑΣΗ ΗΛΕΚΤΡΟΝΙΩΝ.Η ΘΕΡΜΟΚΡΑΣΙΑΚΗ ΕΞΑΡΤΗΣΗ ΤΗΣ ΕΙΔΙΚΗΣ ΑΝΤΙΣΤΑΣΗΣ ΟΛΩΝ ΤΩΝ ΥΜΕΝΙΩΝ ΜΕΤΡΗΘΗΚΕ ΑΠΟ 4.2 ΕΩΣ 300Κ. ΤΑ ΥΜΕΝΙΑ ΕΜΦΑΝΙΖΟΥΝ ΜΕΤΑΛΛΙΚΗ ΣΥΜΠΕΡΙΦΟΡΑ ΚΑΙ ΜΕ ΤΗΝ ΕΞΑΙΡΕΣΗ ΤΩΝ LaSi2 ΚΑΙ LuSi2,ΠΑΡΟΥΣΙΑΖΟΥΝ ΜΙΑ ...
περισσότερα

Περίληψη σε άλλη γλώσσα

RARE EARTH SILICIDE THIN FILMS WERE EPITAXIALLY GROWN ON Si SUBSTRATES. THE SILICIDE LAYERS WERE GROWN IN UHV BY EGUN EVAPORATION OF RARE EARTH AND SILICON AND IN SITU THERMAL TREATMENT.THE STUDY OF THE SOLID PHASE REACTION OF THE RARE EARTH LAYER WITH THE Si SUBSTRATE SHOWED THAT THE DIFFUSION OF SILICON IS A UNIFORM LAYER BY LAYER PROCESS, WHILE THE STRESS BUILD UP DURING THE PROCESS PLAYS AN IMPORTANT ROLE IN THE RESULTING MORPHOLOGY OF THE LAYERS.STRUCTURAL CHARACTERIZATION WAS CARRIED OUT BY ELECTRON MICROSCORY AND X-RAY DIFFRACTION METHODS.SILICIDE LAYERS GROW EPITAXIALLY ON BOTH (100) AND (111)Si IN TETRAGONAL ThSi2 AND/OR HEXAGONAL AlB2 STRUCTURES.THE LATTICE PARAMETERS OF ALL RARE EARTH SILICIDES WERE DETERMINED BY ELECTRON DIFFRACTION.THE ELECTRICAL ALL RESISTIVITY OF ALL THE RARE EARTH SILICIDES WAS MEASURED AS A FUCTION OF TEMPERATURE FROM 4.2K TO 300K. THEY WERE FOUND METALLIC AND WITH THE EXCEPTION OF LaSi2 AND LuSi2,THEY WERE FOUND TO HAVE A MAGNETIC ORDERING TRANS ...
περισσότερα
Πρέπει να είστε εγγεγραμένος χρήστης για έχετε πρόσβαση σε όλες τις υπηρεσίες του ΕΑΔΔ  Είσοδος /Εγγραφή

Όλα τα τεκμήρια στο ΕΑΔΔ προστατεύονται από πνευματικά δικαιώματα.

DOI
10.12681/eadd/12080
Διεύθυνση Handle
http://hdl.handle.net/10442/hedi/12080
Εναλλακτικός τίτλος
Physical properties of the rare earth silicides thin films
Συγγραφέας
Σαλαμούρας, Νικόλαος
Ημερομηνία
1999
Ίδρυμα
Εθνικό και Καποδιστριακό Πανεπιστήμιο Αθηνών (ΕΚΠΑ). Σχολή Θετικών Επιστημών. Τμήμα Φυσικής. Τομέας Φυσικής Στερεάς Κατάστασης
Εξεταστική επιτροπή
Βαρώτσος Παναγιώτης
Παπαδόπουλος Γεώργιος
Αναστασάκης Ευάγγελος
Τριμπέρης Γεώργιος
Στεφάνου Νικόλαος
Παπαϊωάννου Γεώργιος
Συσκάκης Εμμανουήλ
Επιστημονικό πεδίο
Φυσικές Επιστήμες
Φυσική
Λέξεις-κλειδιά
Υμένια πυριτιδίων; Υμένια; Πυριτίδια; Περίθλαση ακτίνων Χ; Ηλεκτρονική μικροσκοπία; Μαγνητικές μεταβάσεις; Σχέσεις επιταξίας; Επιταξιακή ανάπτυξη
Χώρα
Ελλάδα
Γλώσσα
Ελληνικά