Μελέτη και ανάλυση μίκρο- και νανομετρολογικών διατάξεων

Περίληψη

Η παρούσα διατριβή έχει ως κύριο στόχο να παρουσιάσει και να μοντελοποιήσει, χρησιμοποιώντας μεθόδους από διαφορετικές κλίμακες, τη λειτουργία ενός εικονικού μικροσκοπίου ατομικών δυνάμεων καθώς και να εξετάσει μοντέρνες εφαρμογές του στην επιστήμη των υλικών. Συγκεκριμένα, ασχοληθήκαμε με πειραματικές και υπολογιστικές μεθόδους βαθμονόμησης μικροδοκών πυριτίου, με τις αλληλεπιδράσεις μικροδοκών και νανοακίδων πυριτίου και διαμαντιού με ημιαγωγικά δείγματα για εφαρμογές τοπογραφίας και νανοεγχάραξης καθώς και με τη μελέτη ταλαντωτικών και μηχανικών ιδιοτήτων σύνθετων νανοδοκών πυριτίου-γερμανίου. Αρχικά, παρουσιάζονται αποτελέσματα από τη βαθμονόμηση RTESPA μικροδοκών που χρησιμοποιούνται ευρέως στη μικροσκοπία ατομικής δύναμης στη λειτουργία περιοδικής επαφής. Πιο συγκεκριμένα, πραγματοποιήθηκαν διαστατικές μετρήσεις με SEM, μετρήσεις ιδιοσυχνότητας και ποιότητας συντονισμού με AFM και υπολογίστηκαν οι σταθερές ελατηρίου των RTESP δοκών υποθέτοντας τέλειες ορθογώνιες και τραπεζοειδείς ...
περισσότερα

Περίληψη σε άλλη γλώσσα

This dissertation's scope is to present, simulate and model, by using computational methods from different length scales, the operation of a virtual atomic force microscope and some modern applications in material science. More specifically we have examined experimental and computational calibration methods of Silicon microbeams, the interactions of Silicon and Carbon nanotips with semiconducting samples for topographic and nanoscratching applications and the vibrational and mechanical properties of composite Si/Ge nanobeams. Initially, we present results from the calibration of RTESPA microbeams that are used in tapping-mode atomic force microscopy. More specifically, we have implemented dimensional measurements with SEM and vibrational measurements with AFM assuming either rectangular or trapezoidal geometries. FEM models were used to examine which factors influence the cantilever's elastic stiffness (tip, inhomogeneities in the trapezoidal cross section, reflective top layer etc.). ...
περισσότερα

Όλα τα τεκμήρια στο ΕΑΔΔ προστατεύονται από πνευματικά δικαιώματα.

DOI
10.12681/eadd/36924
Διεύθυνση Handle
http://hdl.handle.net/10442/hedi/36924
ND
36924
Εναλλακτικός τίτλος
Study and analysis of micro- and nanometrological devices
Συγγραφέας
Γεωργακάκη, Δήμητρα (Πατρώνυμο: Ιωάννης)
Ημερομηνία
2013
Ίδρυμα
Αριστοτέλειο Πανεπιστήμιο Θεσσαλονίκης (ΑΠΘ). Σχολή Θετικών Επιστημών. Τμήμα Φυσικής. Τομέας Φυσικής Στερεάς Κατάστασης
Εξεταστική επιτροπή
Πολάτογλου Χαρίτων
Φράγκης Νικόλαος
Μαθιουλάκης Εμμανουήλ
Αργυράκης Παναγιώτης
Αναγνωστόπουλος Αντώνιος
Παυλίδου Ελένη
Βουρουτζής Νικόλαος
Επιστημονικό πεδίο
Φυσικές ΕπιστήμεςΦυσική
Επιστήμες Μηχανικού και ΤεχνολογίαΝανοτεχνολογία
Λέξεις-κλειδιά
Νανομετρολογία; Μικροσκόπια ατομικής δύναμης; Προσομοίωση; Μοριακή δυναμική
Χώρα
Ελλάδα
Γλώσσα
Ελληνικά
Άλλα στοιχεία
xi, 192 σ., πιν., σχημ.
Στατιστικά χρήσης
ΠΡΟΒΟΛΕΣ
Αφορά στις μοναδικές επισκέψεις της διδακτορικής διατριβής για την χρονική περίοδο 07/2018 - 07/2023.
Πηγή: Google Analytics.
ΞΕΦΥΛΛΙΣΜΑΤΑ
Αφορά στο άνοιγμα του online αναγνώστη για την χρονική περίοδο 07/2018 - 07/2023.
Πηγή: Google Analytics.
ΜΕΤΑΦΟΡΤΩΣΕΙΣ
Αφορά στο σύνολο των μεταφορτώσων του αρχείου της διδακτορικής διατριβής.
Πηγή: Εθνικό Αρχείο Διδακτορικών Διατριβών.
ΧΡΗΣΤΕΣ
Αφορά στους συνδεδεμένους στο σύστημα χρήστες οι οποίοι έχουν αλληλεπιδράσει με τη διδακτορική διατριβή. Ως επί το πλείστον, αφορά τις μεταφορτώσεις.
Πηγή: Εθνικό Αρχείο Διδακτορικών Διατριβών.
Σχετικές εγγραφές (με βάση τις επισκέψεις των χρηστών)