ΑΝΑΠΤΥΞΗ ΚΑΙ ΧΑΡΑΚΤΗΡΙΣΜΟΣ ΛΕΠΤΩΝ ΥΜΕΝΙΩΝ ΤΗΣ ΕΝΩΣΕΩΣ TIBISE2

Περίληψη

ΣΕ ΑΥΤΗΝ ΤΗΝ ΕΡΓΑΣΙΑ ΜΕΛΕΤΩΝΤΑΙ ΣΥΣΤΗΜΑΤΙΚΑ ΛΕΠΤΑ ΥΜΕΝΙΑ ΤΗΣ ΕΝΩΣΕΩΣ TIBISE2 ΩΣ ΠΡΟΣ ΤΗΝ ΔΟΜΗ, ΜΙΚΡΟΔΟΜΗ, ΜΟΡΦΟΛΟΓΙΑ, ΗΛΕΚΤΡΟΝΙΚΗ ΣΥΜΠΕΡΙΦΟΡΑ (ΜΕΤΑΦΟΡΑ ΕΛΕΥΘΕΡΩΝ ΗΛΕΚΤΡΟΝΙΩΝ - ΣΥΜΠΕΡΙΦΟΡΑ ΔΕΣΜΙΩΝ ΗΛΕΚΤΡΟΝΙΩΝ), ΚΑΙ ΔΥΝΑΜΙΚΗ ΤΟΥ ΠΛΕΓΜΑΤΟΣ (ΟΠΤΙΚΑ ΦΩΝΟΝΙΑ) ΣΕ ΣΧΕΣΗ ΜΕ ΤΙΣ ΣΥΝΘΗΚΕΣ ΠΑΡΑΣΚΕΥΗΣ, ΜΕ ΗΛΕΚΤΡΟΝΙΚΗ ΜΙΚΡΟΣΚΟΠΙΑ ΚΑΙ ΦΑΣΜΑΤΟΣΚΟΠΙΑ ΥΠΕΡΥΘΡΟΥ. ΠΡΟΗΓΗΘΗΚΕ Η ΜΕΛΕΤΗ ΤΗΣ ΗΛΕΚΤΡΟΝΙΚΗΣ ΣΥΜΠΕΡΙΦΟΡΑΣ ΜΟΝΟΚΡΥΣΤΑΛΛΙΚΟΥ ΥΛΙΚΟΥ. ΜΕ ΒΑΣΗ ΤΗΝ ΘΕΡΜΟΚΡΑΣΙΑ ΤΟΥ ΥΠΟΒΑΘΡΟΥ ΤΑ ΛΕΠΤΑ ΥΜΕΝΙΑ ΜΠΟΡΟΥΝ ΝΑ ΧΩΡΙΣΤΟΥΝ ΣΕ ΤΡΕΙΣ ΚΑΤΗΓΟΡΙΕΣ [SE(S) - T<120 C, SE(D) - 150 C300C. ΤΟ ΒΑΣΙΚΟ ΧΑΡΑΚΤΗΡΙΣΤΙΚΟ ΤΩΝ SE(D) ΥΜΕΝΙΩΝ ΕΙΝΑΙ Η ΥΠΑΡΞΗ ΕΝΟΣ ΚΥΒΙΚΟΥ ΨΕΥΔΟΜΟΡΦΙΚΟΥ ΣΤΡΩΜΑΤΟΣ, ΤΟ ΟΠΟΙΟ ΔΕΝ ΠΡΟΒΛΕΠΕΤΑΙ ΑΠΟ ΤΙΣ ΘΕΩΡΙΕΣ ΚΡΙΣΙΜΟΥ ΠΑΧΟΥΣ. ΕΠΙΠΛΕΟΝ ΑΝΑΠΤΥΧΘΗΚΑΝ ΚΑΙ ΛΕΠΤΑ ΥΜΕΝΙΑ ΜΕ ΥΨΗΛΟΥΣ ΡΥΘΜΟΥΣ ΕΞΑΧΝΩΣΗΣ (ΥΜΕΝΙΑ FE). ΤΑ ΣΥΜΠΕΡΑΣΜΑΤΑ ΠΟΥ ΠΡΟΚΥΠΤΟΥΝ ΣΥΝΟΨΙΖΟΝΤΑΙ ΠΑΡΑΚΑΤΩ: - ΤΑ ΥΜΕΝΙΑ FE ΠΑΡΟΥΣΙΑΖΟΥΝ ΤΗΝ ΠΙΟ ΥΠΟΒΑΘΜΙΣΜΕΝΗ ΗΛΕΚΤΡΙΚΗ ΣΥΜΠΕΡΙΦΟΡΑ ΑΝ ΚΑΙ ΕΧΟΥΝ, ΣΥΓΚΡΙΤΙΚΑ, ΤΙΣ ΧΑΜΗΛΟΤΕΡΕΣ ΣΥΓΚΕΝΤΡΩΣΕ ...
περισσότερα

Περίληψη σε άλλη γλώσσα

THE GOAL OF THIS WORK WAS TO CORRELATE THE GROWTH CONDITIONS OF SEMICONDUCTING TIBISE2 EPITAXIAL THIN FILMS WITH THEIR MICROSTRUCTURE AND IN TURN TO DETERMINE THE EFFECT OF THE MICROSTRUCTURE ON THE ELECTRICAL AND ELECTRONIC PROPERTIES OF THE AS - GROWN FILMS. IN ORDER TO ACHIEVE THIS GOAL THE TECHNIQUES ELECTRON MICROSCOPY AND INFRARED SPECTROSCOPY WERE EMPLOYED. ALL OF THE WORK WAS CARRIED OUT AT THE UNIVERSITY OF THESSALONIKI PHYSICS DEPARTMENT RESEARCH FACILITIES. THE RESULTS INDICATE THAT DEPENDING ON THE SUBSTRATE TEMPERATURE THE GROWTH EPITAXIAL THIN FILMS PRESENT THREE DIFFERENT TYPES OF MORPHOLOGY. LOW TEMPERATURE FILMS (SE(S), T<120 C) HAVE COMPLETE COVERAGE AND A <100> PREFERREDORIENTATION ON THE SUBSTRATE WITH SMALL GRAIN SIZES ON THE ORDER OF 0.001 ΜM.THE PROMINENT FEATURE OF THE INTERMEDIATE TEMPERATURE FILMS SE(D), 150 C περισσότερα
Πρέπει να είστε εγγεγραμένος χρήστης για έχετε πρόσβαση σε όλες τις υπηρεσίες του ΕΑΔΔ  Είσοδος /Εγγραφή

Όλα τα τεκμήρια στο ΕΑΔΔ προστατεύονται από πνευματικά δικαιώματα.

DOI
10.12681/eadd/8934
Διεύθυνση Handle
http://hdl.handle.net/10442/hedi/8934
Εναλλακτικός τίτλος
GROWTH AND CHARACTERIZATION OF TIBISE2 THIN FILMS
Συγγραφέας
ΜΗΤΣΑΣ, ΧΡΗΣΤΟΣ
Ημερομηνία
1996
Ίδρυμα
Αριστοτέλειο Πανεπιστήμιο Θεσσαλονίκης (ΑΠΘ). Σχολή Θετικών Επιστημών. Τμήμα Φυσικής
Εξεταστική επιτροπή
ΣΤΟΙΜΕΝΟΣ ΙΩΑΝΝΗΣ
ΑΝΤΩΝΟΠΟΥΛΟΣ ΙΩΑΝΝΗΣ
ΣΠΥΡΙΔΕΛΗΣ ΙΩΑΝΝΗΣ
ΚΑΡΑΚΩΣΤΑΣ ΘΕΟΔΩΡΟΣ
ΠΟΛΥΧΡΟΝΙΔΗΣ ΕΥΣΤΑΘΙΟΣ
ΣΙΑΠΚΑΣ ΔΗΜΗΤΡΙΟΣ
ΚΑΜΠΑΣ ΚΩΝΣΤΑΝΤΙΝΟΣ
Επιστημονικό πεδίο
Φυσικές Επιστήμες
Φυσική
Λέξεις-κλειδιά
Επιτάξια; Ηλεκτρονική μικροσκοπία; Λεπτά υμένια; Φασματοσκοπία υπερύθρου
Χώρα
Ελλάδα
Γλώσσα
Ελληνικά