Μέθοδοι ελέγχου ολοκληρωμένων ψηφιακών κυκλωμάτων

Περίληψη

O ?λεγχος των ψηφιακ?ν κυκλωμ?των επιτυγχ?νεται μ?σω της σ?γκρισης της θεωρητικ?ς αναμεν?μενης και της πραγματικ?ς απ?κρισης (τιμ?ς εξ?δων) των δοθ?ντων κυκλωμ?των μετ? την εφαρμογ? κατ?λληλων διανυσμ?των ελ?γχου (τιμ?ς εισ?δων). Αντικε?μενο της παρο?σας εργασ?ας αποτελε? η ε?ρεση μεθ?δων Αυτ?ματης Παραγωγ?ς Διανυσμ?των Ελ?γχου σφαλμ?των (ATPG πρ?βλημα) για ψηφιακ? κυκλ?ματα. Η παραγωγ? των διανυσμ?των ελ?γχου σφαλμ?των (ATPG πρ?βλημα) διαφοροποιε?ται αν?λογα με το υπ? ?λεγχο κ?κλωμα (συνδυαστικ? ? ακολουθιακ?). Τα βασικ? ζητο?μενα των μεθ?δων ATPG ε?ναι η παραγωγ? εν?ς συν?λου διανυσμ?των ελ?γχου που, κατ? σειρ?ν προτεραι?τητας, (α) παρουσι?ζουν υψηλ? ποσοστ? κ?λυψης σφαλμ?των, (β) το πλ?θος τους ε?ναι μικρ? (κ?στος ελ?γχου) και (γ) παρ?γονται με μικρ? υπολογιστικ? κ?στος. Για τα συνδυαστικ? ψηφιακ? κυκλ?ματα το ATPG πρ?βλημα διατυπ?νεται εδ? (δομ? κυκλ?ματος, συνθ?κες ελεγξιμ?τητας) σαν ?να νευρωνικ? δ?κτυο (NΔ) του οπο?ου η ελ?χιστη τιμ? της συν?ρτησης εν?ργειας του (συντεταγμ?νες ε ...
περισσότερα

Περίληψη σε άλλη γλώσσα

As circuit size grows, the need of correct circuit functioning imposes a testing methodology to be applied to ensure proper behavior of that circuit after manufacturing. Towards that direction, Test Pattern Generation procedures are devised to validate the circuit function. These procedures produce sets of input vectors (test sets) that when applied to circuit inputs produce output responses that enable one to check the "correct" circuit functioning. In this dissertation we elaborate on efficient Automatic Test pattern generation methods for digital circuits. Test pattern generation methods differentiate between those that operate on a combinational circuit and those operating on sequential circuits. For combinational circuits, the circuit under test (CUT) with all the ATPG constraints is represented here by a neural network. This neural network is characterized by an energy function E that has global minimum (=0) only at the neuron states consistent with circuit’s logic function. With ...
περισσότερα
Πρέπει να είστε εγγεγραμένος χρήστης για έχετε πρόσβαση σε όλες τις υπηρεσίες του ΕΑΔΔ  Είσοδος /Εγγραφή

Όλα τα τεκμήρια στο ΕΑΔΔ προστατεύονται από πνευματικά δικαιώματα.

DOI
10.12681/eadd/14664
Διεύθυνση Handle
http://hdl.handle.net/10442/hedi/14664
Εναλλακτικός τίτλος
Test pattern generation methods for digital circuits
Συγγραφέας
Δημόπουλος, Μιχαήλ Γεώργιος
Ημερομηνία
2004
Ίδρυμα
Αριστοτέλειο Πανεπιστήμιο Θεσσαλονίκης (ΑΠΘ). Σχολή Θετικών Επιστημών. Τμήμα Πληροφορικής
Εξεταστική επιτροπή
Λιναρδής Παναγιώτης
Πήτας Ιωάννης
Πομπόρτσης Ανδρέας
Κοντολέων Ιωάννης
Χάταλης Μιλτιάδης
Καρατζά Ελένη
Δοκουζγιάννης Σταύρος
Επιστημονικό πεδίο
Φυσικές Επιστήμες
Επιστήμες Ηλεκτρονικών Υπολογιστών & Πληροφορικής
Λέξεις-κλειδιά
Έλεγχος σφαλμάτων ψηφιακών κυκλωμάτων; Παραγωγή διανυσμάτων ελέγχου σφαλμάτων; Παράλληλος αλγόριθμος παραγωγής διανυσμάτων; Σαμαροειδές σημείο; Αλγόριθμοι, Γενετικοί; Πυκνότητα σφαλμάτων; Κανόνες ελαχιστοποίησης; Συμπίεση διανυσμάτων ελέγχου σφαλμάτων
Χώρα
Ελλάδα
Γλώσσα
Ελληνικά
Άλλα στοιχεία
241 σ., εικ.