Φασματοσκοπική μελέτη συμπαγών και στρωματικών ημιαγώγιμων υλικών, υπό ελαστική παραμόρφωση
Πρέπει να είστε εγγεγραμένος χρήστης για έχετε πρόσβαση σε όλες τις υπηρεσίες του ΕΑΔΔ  Είσοδος /Εγγραφή

Όλα τα τεκμήρια στο ΕΑΔΔ προστατεύονται από πνευματικά δικαιώματα.

DOI
10.12681/eadd/13444
Διεύθυνση Handle
http://hdl.handle.net/10442/hedi/13444
Εναλλακτικός τίτλος
A spectroscopic study of bulk and layered semiconducting materials, under elastic strain
Συγγραφέας
Σιακαβέλλας, Μιχαήλ
Ημερομηνία
2002
Ίδρυμα
Εθνικό Μετσόβιο Πολυτεχνείο (ΕΜΠ). Τμήμα Εφαρμοσμένων Μαθηματικών και Φυσικών Επιστημών. Τομέας Φυσικής
Εξεταστική επιτροπή
Ράπτης Ιωάννης
Λιαροκάπης Ευθύμιος
Ράπτης Κωνσταντίνος
Ζουμπούλης Ηλίας
Παπαδημητρίου Δήμητρα
Κουρούκλης Γεράσιμος
Παπαθεοδώρου Γεώργιος
Επιστημονικό πεδίο
Φυσικές Επιστήμες
Φυσική
Λέξεις-κλειδιά
Φασματοσκοπία Raman; Ημιαγώγιμα υλικά; Πολυκρυσταλλικά υλικά; Υπερπλέγματα; Φασματοσκοπική μελέτη; Ελαστική παραμόρφωση
Χώρα
Ελλάδα
Γλώσσα
Ελληνικά
Άλλα στοιχεία
184 σελ. : εικ., πίνακες