Σύνθεση και φασματοσκοπική μελέτη άμορφων υλικών με τεχνολογική σημασία.

Περίληψη

ΠΑΡΟΥΣΙΑΖΕΤΑΙ ΔΙΕΞΟΔΙΚΑ Η ΔΟΜΙΚΗ ΔΟΝΗΤΙΚΗ ΜΕΛΕΤΗ ΥΑΛΩΔΩΝ ΣΥΣΤΗΜΑΤΩΝ ΜΕ ΧΑΡΑΚΤΗΡΙΣΤΙΚΕΣ ΔΙΑΦΟΡΕΣ ΣΤΙΣ ΤΙΜΕΣ ΙΟΝΤΙΚΗΣ ΤΟΥΣ ΑΓΩΓΙΜΟΤΗΤΑΣ ΜΕ ΤΕΧΝΙΚΕΣ RAMAN ΚΑΙ ΑΝΑΚΛΑΣΤΙΚΟΤΗΤΑΣ ΣΤΟ ΥΠΕΡΥΘΡΟ.Η ΜΕΛΕΤΗ ΤΩΝ ΔΥΑΔΙΚΩΝ ΠΥΡΙΤΙΚΩΝ ΥΑΛΩΝ ΑΛΚΑΛΙΩΝ ΧΝa2Ο(1-Χ)SiΟ2 ΚΑΙ Μ2Ο2SiΟ2 (M=Li,Na,K,Cs) ΑΠΕΔΕΙΞΕ ΤΗΝ ΕΞΑΡΤΗΣΗ ΤΗΣ ΤΟΠΙΚΗΣ ΚΑΙ ΤΗΣ ΔΟΜΗΣ ΤΗΣ ΕΝΔΙΑΜΕΣΗΣ ΕΚΤΑΣΗΣ ΑΠΟ ΤΟ ΕΙΔΟΣ ΚΑΙ ΤΟ ΠΕΡΙΕΧΟΜΕΝΟ ΣΕ ΑΛΚΑΛΙΟ.Η ΤΕΛΕΥΤΑΙΑ ΣΥΣΧΕΤΙΖΕΤΑΙ ΜΕ ΤΗΝ ΘΕΡΜΟΚΡΑΣΙΑΚΗ ΕΞΑΡΤΗΣΗ ΤΟΥ ΙΞΩΔΟΥΣ ΤΩΝ ΤΗΓΜΑΤΩΝ ΤΩΝ ΥΑΛΩΝ.ΔΙΑΠΙΣΤΩΝΕΤΑΙ Η ΑΝΟΜΟΙΟΓΕΝΗΣ ΚΑΤΑΝΟΜΗ ΤΩΝ ΚΑΤΙΟΝΤΩΝ ΑΛΚΑΛΙΩΝ ΕΝΤΟΣ ΤΗΣ ΥΑΛΩΔΟΥΣ ΜΗΤΡΑΣ ΣΕ ΠΛΕΓΜΑΤΙΚΕΣ ΘΕΣΕΙΣ ΔΙΑΦΟΡΕΤΙΚΗΣ ΒΑΣΙΚΟΤΗΤΑΣ.Η ΔΟΜΙΚΗ ΜΕΛΕΤΗ ΤΟΥ ΣΥΣΤΗΜΑΤΟΣ Νa2OXR2O3(3-2X)SiO2 (R=B,AI) ME ΘΕΤΙΚΗ ΑΠΟΚΛΙΣΗ ΤΗΣ ΙΟΝΤΙΚΗΣ ΑΓΩΓΙΜΟΤΗΤΑΣ ΑΠΟ ΤΗ ΓΡΑΜΜΙΚΗ ΣΥΜΠΕΡΙΦΟΡΑ ΑΠΟΚΑΛΥΠΤΕΙ ΤΟΝ ΔΙΑΦΟΡΕΤΙΚΟ ΡΟΛΟ ΤΩΝ Β2Ο3 ΚΑΙ ΑΙ2Ο3 ΣΤΗΝ ΙΟΝΤΙΚΗ ΑΓΩΓΙΜΟΤΗΤΑ ΤΩΝ ΥΑΛΩΝ.Η ΑΡΝΗΤΙΚΗ ΑΠΟΚΛΙΣΗ ΑΠΟ ΤΗ ΓΡΑΜΜΙΚΟΤΗΤΑ ΣΤΟ ΣΥΣΤΗΜΑ ΧΝaB02(1-X)LiBO2 ΑΝΑΓΝΩΡΙΖΕΤΑΙ ΔΟΜΙΚΑ ΜΕΣΩ ΤΗΣ ΙΣΟΜΕΡΕΙΩΣΗΣ ΤΕΤΡΑΕΔΡΙΚΩΝ,ΒΟ/4,ΠΡΟΣ ΤΡΙΓΩΝΙΚΑ ΑΤΟΜΑ ΒΟΡΙΟΥ,ΒΟ/ ...
περισσότερα

Περίληψη σε άλλη γλώσσα

ΤΗΙS STUDY AIMS AT A STRUCTURAL CHARACTERIZATION OF GLASSY SYSTEMS WITH DIFFERENT IONIC TRANSPORT PROPERTIES BY MEANS OF RAMAN AND INFRARED REFLECTANCE SPECTROSCOPIES.ΤΗΕ STUDY OF THE BINARY ALKALI SILICATE GLASSES xNa2O(1-X)SiO2 AND M2O2SiO2(M=Li, Na,K,Cs) WITH LOW CONDUCTIVITIES REVEALS A STRONG DEPENDENCE OF THE LOCAL AND THE INTERMEDIATE RANGE STRUCTURE NOT ONLY ON THE MODIFIER MOLAR FRACTION,BUT ALSO ON THE NATURE OF THE ALKALI METAL AS WELL.THE LATTER CΟRRELATES WITH THE TEMPARATURE DEPENDENCE OF THE VISCOCITIES OF THE GLASS MELTS.THE ALKALI CATIONS ARE INHOMOGENEOUSLY DISTRIBUTED INTO THE GLASSY MATRIX OCCUPYING NETWORK SITES WITH DIFFERENT BASICITIES.THE STRUCTURAL STUDY OF THE GLASSY SYSTEM Na2OXR2O3(3-2X)SiO2 (R=B,AI),CHARACTERIZED BY POSITIVE DEVIATION OF ITS IONIC CONDUCTIVITY FROM THE ARRHENIOUS BEHAVIOUR,DEMOSTRATES THE DIFFERENT ROLE OF B2O3 AND AI2O3 IN THE IONIC CONDUCTIVITY OF THE GLASSES.THE MANIFESTATION OF THE NEGATIVE DEVIATION OF CONDUCTIVITY FROM THE ARRHEN ...
περισσότερα
Πρέπει να είστε εγγεγραμένος χρήστης για έχετε πρόσβαση σε όλες τις υπηρεσίες του ΕΑΔΔ  Είσοδος /Εγγραφή

Όλα τα τεκμήρια στο ΕΑΔΔ προστατεύονται από πνευματικά δικαιώματα.

Διεύθυνση Handle
http://hdl.handle.net/10442/hedi/12295
Εναλλακτικός τίτλος
Synthesis and spectroscopic study of technologically important amorphous materials.
Συγγραφέας
Καπούτσης, Ιωάννης
Ημερομηνία
1998
Ίδρυμα
Εθνικό και Καποδιστριακό Πανεπιστήμιο Αθηνών (ΕΚΠΑ). Σχολή Θετικών Επιστημών. Τμήμα Χημείας
Εξεταστική επιτροπή
Μαυρίδης Αριστείδης
Κατάκης Δημήτριος
Πνευματικάκης Γεώργιος
Τσατσάς. Ανδρέας
Παπαϊωάννου Ιωάννης
Τσεκούρας Αθανάσιος
Κοΐνης Σπυρίδων
Επιστημονικό πεδίο
Φυσικές Επιστήμες
Χημεία
Φυσικές Επιστήμες
Λέξεις-κλειδιά
Φασματοσκοπία Raman; Φασματοσκοπία υπερύθρου; Ύαλοι αλκαλίων; Ύαλοι πυριτικές; Δομή ενδιάμεσης έκτασης; Οπτική βασικότητα; Φάσματα άπω υπερύθρου; Ύαλοι νατρίου; Ύαλοι βοριοπυριτικές; Ύαλοι αλουμινοπυριτικές; Ύαλοι λιθίου; Ύαλοι αργύρου; Άμορφα υλικά
Χώρα
Ελλάδα
Γλώσσα
Ελληνικά
Άλλα στοιχεία
ix, 389 σελ. : εικ., πίνακες.