Πλοήγηση στο ΕΑΔΔ ανά "Συγγραφέας"
: Τσιαούσης, Ιωάννης Δ.
Αποτελέσματα 1 έως 1 από 1
|
Ημερομηνία | Τίτλος | Συγγραφέας | Κείμενο Διατριβής |
---|---|---|---|
2006 | Δομικός χαρακτηρισμός λεπτών υμενίων υλικών προηγμένης τεχνολογίας με τεχνικές μικροσκοπίας: Pd σε υπόστρωμα 6H-SiC (0001), BN σε Si(100) και CeO2 σε Si (100) | Τσιαούσης, Ιωάννης Δ. |
Αποτελέσματα 1 έως 1 από 1
|