Ανάλυση μετρήσεων μικροθορύβου και συσχέτιση με μακροσεισμικά αποτελέσματα της περιοχής Θεσσαλονίκης

Περίληψη σε άλλη γλώσσα

In the last several decades destructive earthquakes (e.g. Northridge-USA 1994, Kobe-Japan 1995, Athens-Greece 1999) occurred close to populated areas showed that site effects can play an important role to the resulting damage. The evaluation of site effects is then one of the key parameters in microzonation studies. Local site effects may be evaluated by empirical (based on recordings of earthquakes or explosions) or theoretical methods (numerical simulation of the site response based on detailed geotechnical and geophysical parameters). The main disadvantage of these methods is the high cost and the time consumed for obtaining the earthquake recordings or geophysical and geotechnical properties. The horizontal-to-vertical spectral ratio technique applied on ambient noise measurements (Nogoshi & Igarashi, 1971; Nakamura, 1989, 2000) (which hereafter is referred to as HVSR technique) has been used as an alternative method to characterize site response in urban environment. Although the ...
περισσότερα
Πρέπει να είστε εγγεγραμένος χρήστης για έχετε πρόσβαση σε όλες τις υπηρεσίες του ΕΑΔΔ  Είσοδος /Εγγραφή

Όλα τα τεκμήρια στο ΕΑΔΔ προστατεύονται από πνευματικά δικαιώματα.

DOI
10.12681/eadd/14969
Διεύθυνση Handle
http://hdl.handle.net/10442/hedi/14969
Εναλλακτικός τίτλος
Ambient noise measurements and correlation with seismic damage distribution in the city of Thessaloniki (North Greece)
Συγγραφέας
Πάνου, Αρετή Απόστολος
Ημερομηνία
2007
Ίδρυμα
Αριστοτέλειο Πανεπιστήμιο Θεσσαλονίκης (ΑΠΘ). Σχολή Θετικών Επιστημών. Τμήμα Γεωλογίας. Τομέας Γεωφυσικής
Εξεταστική επιτροπή
Χατζηδημητρίου Παναγιώτης
Παπαζάχος Κωνσταντίνος
Θεοδουλίδης Νικόλαος
Κυρατζή Αναστασία
Στυλιανίδης Κοσμάς
Αναστασίαδης Αναστάσιος
Λεβεντάκης Γεώργιος-Αχιλλεάς
Λέξεις-κλειδιά
Εδαφικός θόρυβος; Σεισμολογία; Τοπικές εδαφικές συνθήκες; Μικροζωνικές μελέτες; Αριθμητική προσομιίωση; Μακροσεισμικά
Χώρα
Ελλάδα
Γλώσσα
Ελληνικά
Άλλα στοιχεία
238 σ., εικ.