Διατριβή: Δομικός χαρακτηρισμός λεπτών υμενίων υλικών προηγμένης τεχνολογίας με τεχνικές μικροσκοπίας: Pd σε υπόστρωμα 6H-SiC (0001), BN σε Si(100) και CeO2 σε Si (100)

Διατριβή: Δομικός χαρακτηρισμός λεπτών υμενίων υλικών προηγμένης τεχνολογίας με τεχνικές μικροσκοπίας: Pd σε υπόστρωμα 6H-SiC (0001), BN σε Si(100) και CeO2 σε Si (100) - Κωδικός: 15274